Porosimetrie
Die Porosimetrie ist eine nicht ganz definierte Gruppe von unterschiedlichen Verfahren zu Messung der Porosität und Porenvolumverteilung eines Materials. Oft wird der Begriff gleich gesetzt mit der Quecksilberporosimetrie. Es gibt jedoch noch zahlreiche andere Verfahren, die vor allem bei der Charakterisierung von dünnen Schichten an Bedeutung gewinnen, wie:
- Gasporosimetrie
- Flüssig-Flüssig-Porosimetrie
- ellipsometrische Porosimetrie (EP)[1]
- Quecksilberporosimetrie
- Röntgen-Porosimetrie (XRP, engl. x-ray porosimetry)[2]
- Ortho-Positronium-Porosimetrie[3]
Einzelnachweise
- Mikhail Baklanov: Ellipsometric porosimetry. In: Mikhail Baklanov, Karen Maex, Martin Green (Hrsg.): Dielectric Films for Advanced Microelectronics. John Wiley & Sons, 2007, ISBN 978-0-470-06541-9, S. 117–136.
- Christopher L. Soles, Hae-Jeong Lee, B. D. Vogt, Eric K. Lin, Wen-Li Wu: Structure Characterization of Nanoporous Interlevel Dielectric Thin Films With X-Ray and Neutron Radiation. In: Mikhail Baklanov, Karen Maex, Martin Green (Hrsg.): Dielectric Films for Advanced Microelectronics. John Wiley & Sons, 2007, ISBN 978-0-470-06541-9, S. 100–117.
- S. Mariazzi: Positron Beam-Based Ortho-Positronium Porosimetry. In: Paolo Bettotti (Hrsg.): Submicron Porous Materials. Springer International Publishing, Cham 2017, ISBN 978-3-319-53035-2, S. 323–343, doi:10.1007/978-3-319-53035-2_11.
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