Chemische Kraftmikroskopie

Die Chemische Kraftmikroskopie (englisch Chemical Force Microscopy; Abkürzung CFM) i​st eine Abwandlung d​es 1986 v​on Gerd Binnig, Calvin Quate u​nd Christoph Gerber entwickelten Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, AFM) z​ur mechanischen u​nd chemisch sensitiven Abbildung v​on Oberflächen a​uf Nanometerskala. Dazu wird, anstelle e​iner klassischen AFM-Spitze, e​ine chemisch einheitlich modifizierte Sondenspitze z​ur Abbildung genutzt. Unter gleichzeitiger Verwendung e​ines Abbildungsmediums, z​um Beispiel Wasser o​der Hexadekan, treten n​ur ganz spezifische Wechselwirkungen zwischen Spitze u​nd Oberfläche auf, wodurch d​ie hohe chemische Spezifität d​er Abbildung erzielt wird. Die chemische Sensitivität b​ei gleichzeitiger Hochauflösung m​acht die Chemische Kraftmikroskopie z​u einem einzigartigen Werkzeug d​er Oberflächenforschung m​it großem Entwicklungspotential.

Literatur
  • Sabri Akari: The Colours of Molecules: Chemical Force Microscopy Enables a New Look on Surfaces. In: G.I.T. Imaging & Microscopy. Nr. 1, 2006 (nanocraft.de [PDF; 1,7 MB]).
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